Scanning Electron Microscope (SEM)
Melihat Detail Mikro Sampai ke Struktur Permukaan Sampel Dalam penelitian dan analisis material, melihat sampel menggunakan mikroskop biasa terkadang belum cukup. Banyak karakteristik permukaan yang terlalu kecil untuk diamati secara optimal menggunakan mikroskop optik. Untuk kebutuhan tersebut, Scanning Electron Microscope (SEM) menjadi salah satu instrumen penting dalam karakterisasi material. SEM menggunakan berkas elektron untuk memindai […]